tem和sem的异同点？

tem和sem的异同点？

TEM是透射电子显微镜的英文缩写，SEM是扫描电子显微镜的英文缩写。它们都是分析高速电子流和样品功能后的相关信息。由于收集的信息不同，观察结果也有很大差异。

TEM观察样品透射和衍射电子信息，主要用于研究样品的形状、晶体缺陷和超显微结构，也可以测量晶体的结构参数和定向。

TEM分辨率高(0.1nm）和放大倍数(100~200万倍)。

SEM主要使用二次电子观察高分辨率的表面微观。分辨率高（可达5nm），放大倍数为10万~30万倍。如果它们配备了能谱仪，它们可以进行定性或半定量的成分分析。